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混合電路和模塊技術(shù)的發(fā)展簡(jiǎn)史及分析?

50多年來(lái)，混合電路和模塊技術(shù)一直在發(fā)展，現(xiàn)在，模塊采用了COTS（商用現(xiàn)成有售）形式，為縮短設(shè)計(jì)周期、減輕過(guò)時(shí)淘汰問(wèn)題以及應(yīng)對(duì)SWaP（尺寸、重量和功率）挑戰(zhàn)做出了重大貢獻(xiàn)。我們來(lái)回顧一下這種技術(shù)的發(fā)展歷史，

關(guān)于電動(dòng)汽車(chē)充電的發(fā)展過(guò)程?

電動(dòng)車(chē)充電分為哪幾個(gè)過(guò)程1、恒流充電階段，充電器充電電流保持恒定，充入電量快速增加，電池電壓上升；2、恒壓充電階段，充電器充電電壓保持恒定，充入電量繼續(xù)增加，電池電壓緩慢上升，充電電流下降；3、蓄電池充滿(mǎn)，充電

如何準(zhǔn)確測(cè)量電源的核心指標(biāo)紋波?

紋波是電源的核心指標(biāo)，但如何準(zhǔn)確測(cè)量紋波確實(shí)一個(gè)被廣泛忽略的問(wèn)題。也許您認(rèn)為不就是示波器交流耦合，然后把探頭點(diǎn)在電源上嘛？事實(shí)遠(yuǎn)非如此，本文為您呈現(xiàn)紋波測(cè)試的正確方式。一、探頭的選擇在十幾年前，很多公司的電源測(cè)

四步走克服模擬CMOS兩大危害靜電及過(guò)壓?

對(duì)于模擬CMOS（互補(bǔ)對(duì)稱(chēng)金屬氧化物半導(dǎo)體）而言，兩大主要危害是靜電和過(guò)壓（信號(hào)電壓超過(guò)電源電壓）。了解這兩大危害，用戶(hù)便可以有效應(yīng)對(duì)。靜電由靜電荷積累（V=q/C=1kV/nC/pF）而形成的靜電電壓帶來(lái)的危

隔離式電源設(shè)計(jì)需要開(kāi)發(fā)最好的拓?fù)?

自從上世紀(jì) 60 年代開(kāi)關(guān)模式電源 (SMPS) 問(wèn)世以來(lái)，出現(xiàn)了幾種我認(rèn)為足以讓設(shè)計(jì)人員為之興奮的技術(shù)，即：磁集成（70年代）、軟開(kāi)關(guān)（70 年代）、MOSFET（70 年代）和數(shù)字控制（70 年代）。除了數(shù)